VIP-medlem
Serien 378 - Mikroskop för halvledarprövning
Det optiska systemet för mikroskopet FS-70 i serien 378 - Halvledarinspektion utvecklades för den bästsäljande modellen FS60 (senare FS70). 378-serien
Produktdetaljer
Serien 378 - Egenskaper för mikroskopet FS-70 för halvledardetektion
Detta optiska system utvecklades ursprungligen för den bästsäljande modellen FS60 (senare FS70).Det är idealiskt som ett mikroskop för mätning och detektion av halvledare enheter.
FS70L stöder 3 typer av YAG-laservågor (1064nm, 532nm, 355nm) och FS70L4 stöder 2 våglängder (532nm, 266nm) för laserskärning och tunnfilmteknik i halvledare och flytande kristallsubstrat. Detta ökar användningen av lasern. Men med hjälp av Sanfeng mätinstrument för prestanda och säkerhet av lasersträngen i mikroskopet, är Sanfeng inte ansvarig. Vi rekommenderar att du noggrant kontrollerar när du köper en lasersändare.
FS70Z:s standardfunktioner är: ljus synfält, differentiell interferenskontrast (DIC) och polariseringsobservation. FS70L och FS70L4 stöder inte DIC. Användning av inbyggda omvandlare gör det enkelt att hantera långa arbetsavstånd objektiv.
Mycket lätt att hantera: FS70 använder ett optiskt system (synfältet i samma riktning som provet) och finjusterar hjulet med gummihåndtag.
378-serien - prestandaparametrar för halvledardetektionsmikroskop FS-70
|
Modellnummer |
FS-70 |
FS70-TH |
FS70Z |
FS70Z-TH |
FS70L |
FS70L-TH |
FS70L4 |
JS70L4-TH |
||||||||||
|
Varsnummer |
378-184-1 |
378-184-3 |
378-185-1 |
378-185-3 |
378-186-1 |
378-186-3 |
378-187-1 |
378-187-3 |
||||||||||
|
Kort bas modell |
FS70-S |
FS70-THS |
FS70Z-S |
FS70Z-THS |
FS70L-S |
FS70L-THS |
FS70L4-S |
FS70L4-THS |
||||||||||
|
Varsnummer |
378-184-2 |
378-184-4 |
378-185-2 |
378-185-4 |
378-186-2 |
378-186-4 |
378-187-2 |
378-187-4 |
||||||||||
|
Fokusera |
50 mm sträcka, konsentriskt fokusavstånd grovt (3,8 mm/rev) och finjusterat (0,1 mm/rev) handhjul (vänster, höger 0) |
|||||||||||||||||
|
Bild |
Precis som... |
|||||||||||||||||
|
Ögonavstånd |
Siedentopf-typ, justeringsområde |
|||||||||||||||||
|
Antal synfält |
24 |
|||||||||||||||||
|
Skräckvinkel |
|
0° till 20° |
|
0° till 20° |
|
0° till 20° |
|
0° till 20° |
||||||||||
|
Genomgångsfrekvens |
50/50 |
100/0 eller 0/100 |
50/50 |
100/0 eller 0/100 |
100/0 eller 0/100 |
100/0 eller 0/100 |
100/0 eller 0/100 |
100/0 eller 0/100 |
||||||||||
|
Rör objektiv |
|
Inbyggda laserstrålfilter |
||||||||||||||||
|
Använd laser |
1× |
1× |
1× |
2×zoom |
1× |
1× |
1× |
1× |
||||||||||
|
Använd laser |
|
|
|
|
1064/532/355mm |
532/355mm |
||||||||||||
|
Kameraporter |
C-mount (använd adapter B-alternativ) |
Använd en laser med en TV-port |
C-mount-uttag (med grön filterväxlare) |
|||||||||||||||
|
Belysningssystem, valfritt |
Reflekterande ljusfält (Kohler-belysning, med blända) 12V 100W optisk fiber, ljusstyrningsjustering utan pol, ljusledningslängd: 1,5 m, strömförbrukning: 150 W |
|||||||||||||||||
|
Objekt, valfritt |
M Plan Apo,M Plan Apo SL, G Plan Apo |
|||||||||||||||||
|
Objekt, valfritt |
|
|
|
|
M/LCD Plan NIR M/L CD Plan NUV |
M Plan UV |
M Plan UV |
|||||||||||
|
Last |
14.5kg |
13.6kg |
14.1kg |
13.2kg |
14.5kg |
13.6kg |
14.1kg |
13.2kg |
||||||||||
|
Vikt (värd) |
6.1kg |
7.1kg |
6.6kg |
7.5kg |
6.1kg |
7.1kg |
6.6kg |
7.5kg |
||||||||||
378-serien - Tekniska parametrar för mikroskop FS-70 för halvledardetektion
Fokusera
Metod: Med koncentrerad grov och finjusterad handhjul (vänster och höger)
Område: 50mm mätområde, finjusterad 0,1mm / rev 3,8mm / rev
Treglassbilder: precis som
Ögonavstånd: Siedentopf-typ
Justeringsområde: 51-76mm
Antal synplatser: 24
Skräckvinkel: 0°-20° (endast för -TH, THS-modeller)
Belysningssystem: ljus synfält reflekterande belysning (Kohler belysning, med bländare)
Ljuskälla: 12V100W fiber, ingen ljusstyrka justering), ljusledningslängd 1,5 m, strömförbrukning 150W
Objektiv (tillval): M Plan Apo, M Plan Apo SL, G Plan Apo
Onlineförfrågan
-
Kontakter
-
Företag
-
Telefon
-
E-post
-
WeChat
-
Kontrollkod
-
Meddelandeinnehåll
-