Zeiss Crossbeam-serien av FIB-SEM kombinerar de utmärkta avbildnings- och analytiska egenskaperna hos fältutsläppskanningselektronmikroskop (FE-SEM) med den nya generationens fokuserade jonstrålar (FIB). Oavsett om du arbetar i ett vetenskapligt eller industriellt laboratorium kan du använda flera användare samtidigt på en enhet. Tack vare det modulära plattformskonceptet i ZEISS Crossbeam-serien kan du när som helst uppgradera instrumentsystemet efter förändringar i dina behov. När det gäller bearbetning, avbildning eller 3D-rekonstruktionsanalys förbättrar Crosssbeam-serien din applikationsupplevelse avsevärt.

Med Gemini Electronic Optics kan du extrahera verklig provinformation från högupplösta SEM-bilder

Med det nya Ion-sculptor FIB-glaset och en helt ny provhantering kan du maximera provkvaliteten, minska provskador och påskynda experimentet

Med hjälp av Ion-sculptor FIBs lågspänningsfunktion kan du förbereda ultratunna TEM-prover samtidigt som du minskar icke-kristalliserade skador till mycket lågt

Använd variabelt lufttryck med Crossbeam 340

Eller använd Crossbeam 550 för mer krävande karaktärisering, och stora lagerrum ger dig ännu fler alternativ

　　EM-provförberedelseprocessen

Följ följande steg för att slutföra proverna effektivt och av hög kvalitet

Crossbeam erbjuder en komplett lösning för att förbereda ultratunna, högkvalitativa TEM-prover där du effektivt kan förbereda prover och genomföra analys av transmissionsbildningsmönster på TEM eller STEM.

Automatisk lokalisering – lätt att navigera i intresseområdet (ROI)

Du kan enkelt hitta intresseområdet (ROI)

Positionering av prover med hjälp av en navigationskamera i proverbytesrummet

Det integrerade användargränssnittet gör det enkelt att rikta dig till ROI

Få en bred bild utan distorsioner på SEM

2. Automatisk provtagning - förberedelse av tunna prover från kroppsmaterial

Du kan förbereda provet i tre enkla steg: ASP (Automatisk provberedning)

Definitionsparametrar inkluderar driftkorrigering, ytnedsättning och grovt och fint skär

Ionoptiskt system för FIB-speglar garanterar ett mycket högt flöde

Exportera parametrar som kopior för att upprepa åtgärder för batchförberedelse

Enkel överföring - provskärning, mekanisering av överföring

Importera robotar för att svetsa tunna prover på robotens nåltopp

Skär det tunna provet från den del som ansluter provets substrat för att separera det

Filmen extraheras sedan och överförs till TEM-grillnätet

Provverkning - ett viktigt steg för att få högkvalitativa TEM-prover

Instrumentet är utformat så att användaren kan övervaka provtjockleken i realtid och slutligen uppnå den önskade måltjockleken

Du kan bedöma plåttjockleken genom att samla in signaler från båda detektorerna samtidigt. Den slutliga tjockleken kan uppnås med hög repetitivitet med en SE-detektor å ena sidan och ytkvaliteten kan kontrolleras med en Inlens SE-detektor å andra sidan.

Förbered högkvalitativa prover och minska icke-kristalliserade skador till en försummbar nivå